国内刊号：11-1801/TB
国际刊号：1000-3851
发布日期:
作者：杨瑞宵, 陈昊, 王相文, 赵伟, 范勇,
关键词：复合薄膜, 聚酰亚胺(PI), SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>纳米粒子, 多层结构, 介电性能, 耐电晕,
采用浸胶法制备了一系列SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/聚酰亚胺（SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/PI）五层耐电晕薄膜A<sub><em>m</em></sub> A<sub><em>n</em></sub> PA<sub><em>n</em></sub> A<sub><em>m</em></sub>，其中中间层（P）为纯PI薄膜，外层（A<sub><em>m</em></sub>）、次外层（A<sub><em>n</em></sub>）分别为SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>掺杂不同质量分数的纳米SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/PI薄膜。采用TEM、FTIR、宽频介电谱仪、电导电流测试仪、耐电晕测试仪、介电强度测试仪和拉伸实验机对五层纳米复合PI耐电晕薄膜的微观结构、介电性能和力学性能进行了表征和测试。结果表明，SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/PI复合薄膜掺杂层形成了分布均匀的有机/无机复合结构；SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>纳米粒子的保护作用是影响复合材料耐电晕性能的主要因素，复合薄膜A<sub>32</sub>A<sub>16</sub>PA<sub>16</sub>A<sub>32</sub>的耐电晕寿命最大，为23.4 h；外层掺杂量对五层SiO<sub>2</sub>-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/PI复合材料的介电强度影响较大，复合薄膜A<sub>20</sub>A<sub>28</sub>PA<sub>28</sub>A<sub>20</sub>的介电强度最大，为302.3 kV/mm；通过对五层复合结构的设计，可以在兼顾材料力学性能的同时，提高其耐电晕寿命和介电强度。
来源：2018年第5期
《复合材料学报》期刊编辑部